多孔Ni-Ti形状记忆合金低频内耗性能测量研究

摘要：

利用LMR-1型低频力学驰豫谱测量系统,以强迫振动方式对多孔Ni-Ti形状记忆合金进行了内耗性能测试研究.结果表明:马氏体正逆相变温度内耗表现上有峰值出现,认为是相变过程中运动或静止的界面在外加交变应力作用下驰豫造成的.

关键词：多孔Ni-Ti合金、低频力学驰豫谱仪、内耗

所属期刊栏目：18

分类号：TG122(金属学与热处理)

资助基金：江苏省自然科学基金05KJD430201;江苏省苏州市科技发展计划SG0321

在线出版日期：2007-05-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：68-70