基于"单片机+FPGA"的数字芯片自动测试系统设计

摘要：

为了解决实验室和实验教学中74系列数字芯片功能和型号测试自动化的问题,该文设计了一套基于"单片机+FPGA"的数字芯片自动测试系统.采用单片机作为控制核心,驱动LCD显示测试信息,扫描按键设置测试参数;采用FPGA作为测试核心,给待测芯片施加激励信号,并将响应信号与预期响应信号进行比较,获得测试结果;设计自定义接口完成单片机与FPGA之间的通信.该系统实现了 14、16和20引脚的74系列数字芯片功能和型号测试,具有集成化、多样化、便捷化的特点,极大地提高了实验室和实验教学中芯片的测试效率.

关键词：数字芯片自动测试、多功能、多引脚、单片机、FPGA

所属期刊栏目：37

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：湖北省高等学校省级研究项目;中南民族大学教研项目;中南民族大学实验室技改项目

在线出版日期：2021-04-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：130-135