10.16791/j.cnki.sjg.2020.11.021
基于微控制器的便携式共面电容无损检测系统
设计了基于电容成像原理的便携式无损检测系统,以STM32F446微控制器为核心,具有操作简便的可交互主机和可更换的电容探头,可实现对反映缺陷信息的微小电容信号的实时精确测量.系统软件以相互独立的功能程序为基础,并由实时操作系统调度.系统用户界面友好,支持测量信号的实时处理,可以以云图和峰值图的形式显示缺陷的位置和尺寸信息,并具有历史数据存储和调出功能.测试结果表明,系统可对非导电材料缺陷进行快速无损检测,兼具教学实验价值和现场适应性.
电容成像、无损检测、便携系统
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TH878
国家"公共安全风险防控与应急技术装备"重点专项;国家自然科学基金项目;中央高校基本业务费白主创新项目
2021-03-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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