常用逻辑门芯片测试装置研究与设计

摘要：

结合数字电路相关课程的改革,针对数字电路中常用的74/54系列逻辑门芯片,研究并设计了一种基于单片机最小系统的常用逻辑门芯片测试装置.该装置为电子技术相关理论和实践教学提供了快速、直观、稳定的测试方式,提高了实验室芯片检测的效率与准确率,同时也提高了理论与实验课程的教学效果.

关键词：数字电路、逻辑门、芯片测试、实践教学

所属期刊栏目：34

分类号：TP211.5;G642.0(自动化技术及设备)

资助基金：江苏高校品牌专业建设工程一期项目PPZY2015B141;河海大学高等教育科学研究2015年度立项课题"翻转课堂模式下的电类课程实践教学模式研究与实践"20151212

在线出版日期：2017-05-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：94-97,103