基于AFM接触模式的假像分析

摘要：

受测试原理的限制,原子力显微镜(AFM)测试的样品图像会出现失真现象.该文通过对不同样品的测试,分析了AFM在接触模式测试中出现假像的原因.

关键词：AFM、假像分析、测试技巧

所属期刊栏目：33

分类号：TH742.9(仪器、仪表)

资助基金：国家自然科学基金项目61377056

在线出版日期：2016-11-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：84-86,91