基于 STM32的晶体管特性曲线测试仪

摘要：

设计了一种以 STM32F103VET6为核心的晶体管输入输出特性曲线测试仪.通过数字电位器实现对待测三极管基极输入电流的阶梯控制,基极驱动电流0～160μA,分辨率达到0．1μA；通过内嵌 DAC 控制三端稳压电路的输出实现集电极扫描电压的调节,输出范围0～30 V,最高分辨率3．18 mV；电流的测量首先通过采样电阻转换为待测电压,经仪表放大器进行放大后由内嵌 ADC 进行采样,采用中位值平均滤波法滤除采样干扰.由 STM32F103VET6处理器对所测得参数运算处理,绘制晶体管输入输出特性曲线,通过 LCD实时显示晶体管特性曲线及放大倍数 h FE 值；测试仪还具有与上位机通信的功能,方便实现对所测数据做进一步处理.

关键词：晶体管特性曲线、嵌入式处理器、数字滤波、LCD 显示

分类号：TN32(半导体技术)

资助基金：国家自然科学面上基金项目61371025;安徽高校省级自然科学研究重点项目KJ2012Z316

在线出版日期：2015-12-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：86-90