基于粗糙集的测试集优化

摘要：

电路集成度和复杂度的不断增加使得电路的故障诊断越来越困难.其中,测试集的优化问题是电路故障诊断的关键问题之一.以粗糙集理论为基础,提出了利用区分矩阵和区分函数来提取最小测试集的知识约简算法,较好地解决了测试集的优化问题,并通过实验验证了该算法的性能.

关键词：测试集优化、粗糙集、知识约简

所属期刊栏目：26

分类号：TN407;O144.5(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2009-07-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：45-48