基于单片机的不良导体导热系数实验仪的研制

摘要：

研制了基于89C55单片机的不良导体导热系数实验仪,应用MAX6675芯片完成热电偶冷端补偿和数据AD转换,通过可控硅调相方式控制加热温度,LCD显示各项实验参数和曲线.该文介绍了系统硬件和软件的设计.

关键词：导热系数、实验仪、热电偶、温度测量、单片机

所属期刊栏目：25

分类号：TH811;TP368.2

在线出版日期：2008-09-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：70-72,76