10.3969/j.issn.1002-4956.2000.06.005
X射线光电子能谱扩展新方法的研究
本文研究了表面分析技术--X射线光电子能谱扩展电子能谱在微小差别物种鉴定上的应用,建立在新型功能碳材料中碳元素的化学状态的分析方法,利用X射线电子能谱的指纹峰、X射线激发俄歇谱、变角X射线光电子谱技术对新型功能材料以及纳米器件的研究开发提供了导向信息.
X射线光电子能谱、线形分析、变角技术、俄歇电子、扩展光电子能谱
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TH838+.3
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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