关于实现硬件故障裕度一致性问题的探讨

摘要：

针对国内在用的SIL证书种类繁杂,在使用中暴露出很多错误和误导的问题,介绍了评估硬件故障裕度时的常见问题和误区,以及评估硬件故障裕度的两种新方案路径1H和路径2H,对比分析两种新方案评估特点并进行了应用验证.结果 表明:路径1H的硬件容错方法在流程领域中一般并不适用,路径2H评估过程则较为简单实用.

关键词：SIL证书、硬件故障裕度、常见问题、流程领域

所属期刊栏目：56

分类号：TP273(自动化技术及设备)

在线出版日期：2020-10-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：29-33