离子色谱法检测高纯硅微粉中痕量铁和氧化铁杂质

摘要：

建立了柱后衍生-紫外检测-离子色谱法同时测定高纯硅微粉中痕量铁和氧化铁杂质含量的方法.方法选用具有阴阳离子交换基团的高选择性Thermo Scientific DionexTM IonPacTM CS5A色谱柱,选择与铁形成单一络合形态、中等络合能力的2,6-吡啶二羧酸(PDCA)为淋洗液,在线柱后添加普适性的4-2-吡啶偶氮苯二酚(PAR)金属显色剂,于530 nm波长下准确完成了二价和三价铁离子的分离测定.结果表明,本方法对二价铁离子和三价铁离子的检出限分别为0.013 mg/kg和0.006 mg/kg,线性相关系数r2均大于0.999,实际样品中二价铁和三价铁的加标回收率分别为79％ ～ 90％和92％～105％,具有较高的灵敏度、准确度和选择性.该方法可以准确测定高纯硅微粉中痕量二价铁和三价铁的含量,以此结果反馈高纯硅微粉产品中铁杂质含量的不同来源,为其生产工艺的持续优化和改进提供重要的参考数据.

关键词：离子色谱法、柱后衍生、铁、氧化铁、硅微粉

所属期刊栏目：34

分类号：O658(分析化学)

资助基金：四川省科技支撑计划项目2015FZ0097.Sichuan Science and Technology Support Program 2015FZ0097

在线出版日期：2016-12-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：976-981