亚低温减少大鼠短暂性全脑缺血后皮质iNOS诱导的神经元凋亡

摘要：

为研究亚低温对大鼠脑缺血再灌注后皮质iNOS表达、NO产生及神经元凋亡的影响及探讨亚低温的神经保护机制,用大鼠短暂全脑缺血模型,采用Nissl染色观察存活神经元、免疫组化法检测iNOS、硝酸还原酶法检测NOx-水平和TUNEL染色结合电子显微镜观察检测凋亡神经元.结果显示:常温缺血组额叶皮质iNOS表达、NOx-水平增高,出现凋亡神经元;低温缺血组iNOS表达、NOx-水平明显低于常温缺血组,未检测到凋亡神经元.上述结果提示,脑缺血后iNOS来源的NO参与了神经元的凋亡过程,亚低温可减少大鼠短暂性全脑缺血后iNOS诱导的神经元凋亡.

关键词：脑缺血、亚低温、凋亡、一氧化氮合酶、一氧化氮、大鼠

所属期刊栏目：20

分类号：R33(人体生理学)

资助基金：福建省教育厅科技计划项目JA02225

在线出版日期：2005-01-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：579-585