将汽车IC中的闩锁敏感度降至最低

摘要：

@@ 对于半导体供应商而言,要对汽车应用的新IC设计进行合格验证,通过问锁免疫性测试是一项挑战.芯片设计人员可能需要在裸片上增加关键晶体管的物理间隔,但实际上,此举不会带来任何明显的好处,在某些情况下甚至还可能产生某些副作用.

机标关键词：汽车应用、闩锁、芯片设计、免疫性、晶体管、供应商、副作用、半导体、验证、物理、挑战、人员、间隔、合格、测试

分类号：U46;TQ3

在线出版日期：2008-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：26-28