回顾与展望:解析测试测量行业热点技术及应用走势

摘要：

@@ 无论对于半导体芯片,还是推向市场的成熟产品,测试测量都是其生产过程中必不可缺少的一个环节.随着消费电子、通讯网络以及更高速的计算应用提出了更多的新测试项目及更复杂的测试需求,嵌入式、无线、高速串行数据等测试逐渐成为近年来业界所关注的焦点应用.

机标关键词：解析、测试测量、行业、热点技术、计算应用、半导体芯片、消费电子、通讯网络、生产过程、串行数据、成熟产品、测试需求、测试项目、嵌入式、无线、市场、焦点

分类号：TH4;TN9

在线出版日期：2008-04-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：30-32