使用Agilent矢量网络分析仪解决射频和微波测量领域的难题

摘要：

@@ 对高频率元器件的线性和非线性性能进行精确表征,以及获得更高的子系统集成能力的需求,正在逐渐改变着射频和微波设备的测试方式.本文将详细阐述这个问题,并介绍如何通过在测试系统中添加备用的内置信号发生器,以及通过增加扩展测试端口的数量,更有效地使用矢量网络分析仪(VNA).此外,本文还介绍了为使校准精度保持双端口S参数测量的水平,VNA校准方法的演进过程.

机标关键词：矢量网络分析仪、射频、测试系统、子系统集成、信号发生器、非线性性能、演进过程、校准方法、微波设备、双端口、测试方式、参数测量、元器件、高频率、能力、扩展、精度、表征

分类号：TP3;TN9

在线出版日期：2007-03-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：68-71