新型天线测试配置降低总测量测试时间

摘要：

随着变得越来越复杂,其测试要求也变得越来越复杂,相应的技术也正在不断变化,这些技术进步可以提供一条降低总测试时问的途径,从而提高测试量程的生产效率.本文将介绍这种新技术在天线/RCS测量中的特点、配置,典型天线/RCS测量方案,以及不同测量方案的测量时间比较,从而考察这种新技术在天线测量中降低测量时间的效果.

机标关键词：天线测量、测试配置、测量时间、测试时间、新技术、测量方案、时间比较、生产效率、技术进步、测试要求、量程、考察

分类号：TP3;TN4

在线出版日期：2005-07-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：72-76