无源光器件的偏振相关损耗测量

摘要：

@@ 介绍偏振相关损耗(PDL)现已成为描述无源光器件特性的一项标准指标.当前主要有两种PDL测量方法:偏振扫描法和四状态法,后者一般也被称作Mueller法.本文将对这两种测量方法进行简要的介绍,概要说明其主要难题和主要的误差来源,并对其在当前无源器件测量中的实际应用进行比较.

机标关键词：无源光器件、偏振相关损耗、损耗测量、测量方法、误差来源、无源器件、实际应用、器件特性、标准指标、状态法、扫描法、描述

分类号：TN2(光电子技术、激光技术)

在线出版日期：2005-07-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：74-75