高性能单片机C8051F020及其在露点测试系统中的应用

摘要：

@@ 应用背景
目前在食品加工、饲料、家用电器等行业中广泛的应用的露点测试系统要求具有高精度、高可靠性及高稳定性等特点.而且整个测试过程中需要动态连续或者间歇性动态连续进行.测试系统的控制核心部分一般采用单片机系统,其硬件电路示意图如图1所示,这种单片机系统虽然基本能满足生产需要,但是,由于系统扩展芯片多,线路复杂,也都不同程度地暴露出资源再扩受限、易出故障、编程麻烦、升级维护困难等缺点,而且可靠性和稳定性也难以保证.因此,具有高速、高性能、高集成度并与8051完全兼容的单片机就显得非常需要.美国Cygnal公司新近推出的C8051F×××系列单片机正好可满足这些需求.下面就该产品中适用于露点测试系统的C8051F020单片机进行探讨.

机标关键词：高性能、单片机系统、露点测试系统、应用、Test System、可靠性和稳定性、系列单片机、硬件电路、食品加工、生产需要、扩展芯片、控制核心、家用电器、高稳定性、高可靠性、高集成度、测试过程、示意图、全兼容、间歇性

分类号：TP3(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2005-07-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：54-55