基于蚂蚁路径的时序电路故障诊断算法

摘要：

提出了一种VLSI时序电路自动测试型生成(Automatic test pattern generation,ATPG)的新算法.传统ATPG算法采用局部状态转换图或收集门级电路的知识以及提取电路规则来解决时序电路ATPG的困难.本算法引入新的模型,着重解决了ATPG中的计算冗余问题.在蚂蚁路径模型的基础上,前向搜索得到了重建,故障点的前向传输和回溯归结到了单一路径之上,而该路径上可能分布着许多待测的故障点,从而改善了以往时序电路ATPG算法中搜索重复而导致的计算冗余问题,同时,最小测试向量的获取为数学定理所证明.最后在Benchmark电路上进行的与ILP算法的比较试验表明,本算法具备同样的故障覆盖率,且速度更快.

关键词：蚂蚁路径、ATPG、时序电路、最小测试型

所属期刊栏目：18

分类号：TN47(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：航天科技基金;湖北省自然科学基金2001ABB104

在线出版日期：2004-02-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：373-376