采用能量色散X射线荧光仪测定分子筛中硫酸根离子的含量

摘要：

建立了采用能量色散X射线荧光仪测定分子筛中硫酸根离子含量的分析方法,考察了所建方法的准确度和精密度.结果表明,在测试介质为空气,工作电压为6 kV,工作电流为200 μA,计数时间为180 s,最小ROI为2.198,最大ROI为2.433的测试条件下,工作曲线的线性相关系数为0.999 3；测定20个w(SO42-)为0.13％ ～ 1.50％的工业分子筛样品,方法的准确度(绝对误差)为0.01％ ～0.14％,平均值为0.03％；测定8个w(SO42-)为0.158％～3.321％的标准试样,每个样品测试10次,方法的精密度(相对标准偏差)为0.41％～2.94％.

关键词：能量色散X射线荧光仪、硫酸根离子、分子筛

所属期刊栏目：31

分类号：O657.34(分析化学)

在线出版日期：2013-09-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：333-336