10.3969/j.issn.1009-0045.2001.02.004
NaY分子筛的结构稳定性研究
分析了用2种不同工艺合成的NaY分子筛结构稳定性存在差别的原因。结果表明:用快速升温工艺合成的2种NaY分子筛与传统工艺制备的NaY分子筛相比,其结晶度(XRD法)、硅铝比(XRD法)、非骨架铝和缺陷空穴相同或相近,但以快速升温工艺制备的NaY分子筛,其晶体粒度小,表面富铝,且Si(4Al)和Si(3Al)含量较高,是导致NaY稳定性变差的根本原因。
分子筛、结构稳定性、晶体粒度
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TQ424.25
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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