浅谈电气测试系统的抗干扰及抑制

摘要：

随着现代科学技术的发展,极大地推动了各学科之间的交叉与渗透.加速了各个领域内的技术革命与改造.在测试领域,由于微电子技术和计算机技术的迅速发展,为测试系统带来了前所未有的发展空间,生产方式及管理体系发生了巨大变化.本文从干扰形成的三要素入手,为提高测试系统的抗干扰能力提出了各种抗干扰的具体措施和方法.

关键词：干扰源、干扰途径、电气控制测试系统、职业素养

分类号：TN41;TM931;TP273

在线出版日期：2013-11-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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