基于STM32的热敏探测器均匀性测试仪的设计

摘要：

针对传统热敏探测器均匀性测试仪智能化程度低和系统运行实时性差的问题出了一种基于STM32F373的热敏探测器均匀性测试仪的设计方法.测试仪由以STM32f373为核心的电路系统、光学聚焦系统、XY两轴位置控制平台、信号放大与采集系统和控制与显示系统组成,上位机采用VB进行了系统编程.采用热敏探测器进行系统测试,多次测试表明设计的均匀性测试仪的重复精度为0.82％,测试单点时间为1.49 s,为小型化均匀性测试仪的设计提供了一种方法.

关键词：STM32、热敏探测器、均匀性、光学聚焦系统

所属期刊栏目：57

分类号：TP391(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金资助项目11774017;上海市宝山区科委产学研项目bkw2015130

在线出版日期：2019-06-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：9-12