10.3969/j.issn.1673-159X.2015.01.002
掺杂CuO对(Zr0.8 Sn0.2)TiO4陶瓷介电性能的影响
采用固相反应法制备陶瓷样品,研究掺杂CuO对( Zr0.8 Sn0.2) TiO4的微观结构和介电性能的影响。结果表明:掺杂降低了( Zr0.8 Sn0.2) TiO4陶瓷的烧结温度,样品能够在1300℃下烧结成瓷,陶瓷密度和介电常数随着CuO的增加而增加,介电损耗随着掺杂量的增加而减少。 XRD结果显示:样品的主晶相均为( Zr0.8 Sn0.2) TiO4相。ZnO和CuO的质量分数均为1%、烧结温度1350℃时,介电常数为40.5,损耗为0.0004(1MHz),介电性能最佳。
介电常数、Cu3 TiO4、SEM
G48;O61
西华大学研究生创新基金YCJJ201303,YCJJ201306
2015-01-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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