荧光研究装置光测量系统的波长刻度

摘要：

在300 nm～900 nm范围内对荧光研究装置光测量系统进行波长刻度,并拟合出光波长刻度的外推公式.

关键词：光测量系统、波长、刻度

所属期刊栏目：19

分类号：O562.3;O562.4;O433.1(分子物理学、原子物理学)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：76-78