10.3969/j.issn.0490-6756.2002.04.018
利用径向剪切干涉法测量液晶空间光调制器的位相调制特性
研究了一种测量液晶空间光调制器的相位调制特性方法,采用共光路径向剪切干涉仪,对经空间光调制器调制后的波面进行径向剪切干涉后,获得其干涉条纹图,并用迭代算法计算其波面的相位分布,从而得到液晶光空间调制器上的相位调制曲线.
相位调制特性、径向剪切干涉、迭代算法
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TN761(基本电子电路)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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