测振仪表中的掉电数据保护应用设计

摘要：

介绍了XICOR公司的X24C45在基于单片微处理器的振动测试仪表系统中的掉电数据保存、上电恢复现场继续运行的应用设计技术,给出了与单片微处理器的硬件连接及系统软件流程图,可以看出其使用非常方便简洁,可广泛地应用于工控领域.

关键词：测振仪表、单片微处理器、X24C45

所属期刊栏目：44

分类号：TP39(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：274-275