双能X射线检查系统的Monte Carlo模拟

摘要：

为了提高双能X射线安全检查系统的材料分类能力,采用Monte Carlo方法对系统的成像过程进行了模拟.利用MCNP4C程序模拟电子打击钨靶产生韧致辐射、射线与物质的相互作用,得到了材料分类曲线.与数值方法以及实验方法相比,该方法的材料分类不受系统噪声影响,可以分辨原子序数相差为1的两种材料,并且只需要几min计算时间.进行了铝阶梯的实验,对一系列典型材料和专用测试工具箱进行了测试.结果表明, Monte Carlo模拟方法可以提高安全检查系统的材料分辨能力.

关键词：辐射成像、双能量、材料分辨、Monte Carlo方法

所属期刊栏目：46

分类号：TL81(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)

资助基金：中国科学院资助项目10135040

在线出版日期：2006-09-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：813-816