基于美国对华技术管制清单的专利分析*--以数控系统领域为例

摘要：

数控系统作为高端制造的关键技术，发达国家一直进行着技术管制，通过专利数据可以分析出技术的竞争力，近年来中国的专利数量已经赶超发达国家，但专利的质量却不及发达国家，本文主要分析技术管制清单及其变化，并提出一个研究方法，即通过分析该领域专利数据的分析中美两国技术竞争力，然后结合专利数据分析管制原因。

关键词：数控系统、出口管制、专利质量、核心技术、技术竞争、技术保密

分类号：TP3;G35(计算技术、计算机技术)

资助基金：中央级公益性科研院所基本科研业务费专项资金“科技检测、重点领域深度分析及决策支持平台建设重点领域深度分析”ZD2014-4-2。

在线出版日期：2014-12-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：46-53