10.3969/j.issn.1000-0275.2002.06.015
西红柿成熟度与电特性关系的无损检测研究
本文利用LCR电桥测量仪和无损检测方法测定了不同成熟度(青、微红和红)西红柿的介电常数、等效阻抗、介质损耗因数等电特性.试验结果表明:在加载频率一定时,随着成熟度的提高,西红柿的相对介电常数增大,等效阻抗减小.在4KHz-150KHz的频段内,随着加载频率的增大,等效阻抗减小,相对介电常数略有减小,介质损耗因数在4KHz-20KHz的频段内变化较小.
西红柿、电特性、成熟度、无损检测
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S641.2
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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