温室智能装备系列之九十二衰减全反射-红外光谱和模式识别结合对温室不同种类杂草鉴别技术研究
利用衰减全反射法(AT R)对温室生长的杂草叶片进行活体检测,利用红外光谱(FT IR)的指纹特征属性,构建杂草样本的红外指纹图谱,将其作为模式识别(S C MIA)提取的特征数据,以此建立聚类分析数学模型,运用该模型对温室生长的杂草活体样本进行种类模式识别.结果表明,采用这种方法建立的杂草叶片数学模型具有显著的分类和鉴别能力,同时具备较高的准确性、可靠性以及适用性,为机械系统识别传感杂草的研究提供了一种新方法.
智能装备、鉴别技术、不同种类、杂草鉴别、红外指纹图谱、衰减全反射法、机械系统、数学模型、指纹特征、活体检测
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TP311.1;O614.33;S126
教育部国家留学基金;北京市创新团队岗位专家项目
2017-08-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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