利用分形维数预评价VLSI布线品质的研究

摘要：

随着生产流程的微小化,VLSI设计中的信号延迟与干扰问题成为常态,而这种问题主要和连线长度等相关,因此需要一种在上流设计时能够预测线网长度的方法提高设计效率.本论文中,探讨一种利用分形解析来预测设计品质的可能性.通过将网表二部图化,求取单独的表元素分形维数,并和实际布线长进行比较,考察这种方法的有用性.

关键词：分形、VLSI设计、布线长预评价

所属期刊栏目：35

分类号：TN4;O157.3(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：内蒙古自然基金项目;国家国际科技合作专项基金;国家重点基础研究发展计划（973计划）

在线出版日期：2015-06-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：134-137