基于STM32的简易电路特性测试系统设计

摘要：

设计了一种基于STM32单片机控制的简易电路特性测试系统.被测电路测试板是分压式共射极三极管放大电路.测试系统采用外部DDS模块AD9851作为信号源,为被测电路提供0～1 V幅值、1 Hz～180 MHz频率、步长为1 Hz的标准正弦测试信号.该测试信号进行放大或衰减等预处理后得到Vi,输入到给定的被测电路测试板.测试板输出响应信号Vo,使用仪表放大器和OP放大器设计信号采集处理电路进行处理后,利用AD7324对信号进行模数转换.测试系统能实现输入-输出电阻的测量,且误差在1.5％以内,可以实现放大电路幅频特性测量,还具备故障诊断功能,能较好实现电路特性的自动化测试.

关键词：STM32、电路测试系统、放大电路、幅频特性曲线

所属期刊栏目：41

分类号：TN707(基本电子电路)

资助基金：湖北省重点实验室开放基金;湖北汽车工业学院研究生教育质量工程项目

在线出版日期：2022-11-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：20-26