高阶常微分系统广义第二谱的上界

摘要：

考虑高阶微分系统在有限区间上广义谱的上界估计,此问题是某类六阶微分系统离散谱问题的自然延伸,首先用向量和矩阵符号,将方程组写成矩阵形式,并选择合适的试验函数,利用广义Rayleigh定理建立一基本不等式,其次利用矩阵运算、分部积分、Schwartz不等式等方法,证明了五个引理,最后得到了用第一个谱来估计第二个谱的显式上界不等式,且其估计系数与区间的度量无关,其结论是文献定理的进一步拓展.

关键词：微分系统、广义谱、特征函数、上界、估计

所属期刊栏目：33

分类号：O175.1(数学分析)

在线出版日期：2014-04-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：11-17