数字集成电路参数测试仪的设计

摘要：

以AT89C51单片机为核心设计了一种简易数字集成电路参数的测试仪器.测试仪采用多值参数比较法,利用单片机的数学运算和控制功能,对数字IC进行功能测试,同时完成各项直流参数测试,并通过8279键盘控制来实现测量中的量程自动切换及各路测试项目的参数显示.

关键词：单片机、集成电路、数模转换、键盘控制

所属期刊栏目：9

分类号：TN431.202(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2007-07-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：63-65