一种断层解释的新方法--双相干相关法

摘要：

采用双相干相关法来检测微小断层,并估计其落差.理论和实例计算表明,该方法行之有效且具有分辨率高、抗噪能力强、对介质随机不均匀性的压制和对断点绕射不敏感等特点.

关键词：双相干相关、微断层、断层落差、时间延迟

所属期刊栏目：25

分类号：TD163+.1;TN911.71(矿山地质与测量)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：117-121