合理设计安全仪表功能回路的冗余架构

摘要：

安全仪表功能(SIF)回路的冗余架构应满足安全和误停车率的要求.结合安全完整性等级(SIL)验证工作的经验,对影响SIF冗余架构设计的标准及各种规定的强制约束和影响SIF回路冗余架构设计的因素,如:安全失效因子、平均失效率及误停车率、共因失效及检验测试时间间隔、仪表测量及制造原理、仪表故障模式对架构降级的约束等,进行了工程分析,给出了合理的冗余架构设计原则.合理的冗余架构设计,应当兼顾SIF回路中的各个部件,并非冗余仪表越多越好,也并非越少越好,在经济条件允许的前提下,合理性是在满足安全及减少误停车率之间平衡的结果.

关键词：安全仪表功能、冗余架构、安全失效因子、平均失效率、误停车率、共因失效、检验测试时间间隔仪表故障模式

所属期刊栏目：54

分类号：TP273.2;U469.72;TP309

在线出版日期：2024-01-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：27-30,45