SWI在弥漫性轴索损伤中脑内出血灶的诊断应用

摘要：

目的 利用磁敏感加权成像(SWI)了解弥漫性轴索损伤(DAI)出血灶的表现并探讨SWI在外伤性DAI中出血灶的应用价值.资料与方法 20例DAI患者行3.0 T磁共振SWI.观察DAI脑内出血灶在SWI上的形态、分布、数目等,并与昏迷程度、昏迷天数以及预后等进行对比或相关分析.结果 DAI的出血灶在SWI像上表现为斑点状,线条状,小团状低信号,病灶最大径最大者15 mm,最小者<0.5 mm.DAI出血灶在脑表浅部分布较后颅窝和脑深部多.DAI出血灶总数分别与格拉斯哥昏迷评分(GCS)和昏迷天数呈负相关(r=-0.931,P=0.000)和正相关(r=0.924,P=0.000).预后不良组患者DAI出血灶数大于恢复良好组.结论 SWI有助于显示DAI出血灶,从而能够较好地解释DAI的临床症状,并对判断DAI患者的预后亦有一定价值.

关键词：磁共振成像、磁敏感加权成像、脑、弥漫性轴索损伤

所属期刊栏目：29

分类号：R74(神经病学与精神病学)

在线出版日期：2010-06-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：436-440