X射线发光光学断层成像的研究进展

摘要：

X射线发光光学断层成像(XLOT)是一种利用X射线照射生物体内的纳米发光材料进行成像的新型光学分子成像技术.对比现有光学分子成像技术,XLOT能够同时进行功能和结构成像,并且具有更高的成像深度和成像分辨率,具有广泛的应用前景.本文对XLOT成像技术的研究现状进行综述,回顾了不同XLOT系统的成像原理、系统组成以及各自的优缺点,概述了现有XLOT重建方法及其最新进展,总结了目前XLOT中常用的成像探针,在此基础上,介绍了XLOT技术在预临床诊断上的应用现状,最后对XLOT未来的研究方向进行了展望.

关键词：X射线发光光学断层成像、X射线、光学分子成像、纳米发光材料、成像系统、重建技术

所属期刊栏目：62

资助基金：国家自然科学基金61571281,81371604,61675124

在线出版日期：2018-06-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共13页

页码：3838-3850