二阶导数识别井储效应的气井试井解释新方法

摘要：

气井受井储效应影响严重,利用传统试井分析模型难以得到准确的解释结果.从试井理论入手,针对气井受井储效应严重、压恢试井曲线很难达到直线段的现象,分析实测曲线的偏离原因,从而对常规试井模型进行改进,并创新性地运用二阶导数法对试井曲线进行分析,明确井储效应影响下的压恢试井曲线具体变化情况.根据井储效应影响程度划分了两类试井解释问题,结合二阶导数分别提出了气井试井解释新方法,进而运用有限差分等方法,根据实际数据,对压力恢复值随等效时间的变化、压力恢复值随等效时间的多阶导数变化情况进行拟合.结果表明,耦合作用下得到的储层参数更准确,可以用来指导区块合理开发.

关键词：二阶导数、试井解释、井储效应、有限差分

所属期刊栏目：22

分类号：TE357.14(油气田开发与开采)

资助基金：国家科技重大专项2016ZX05047-005-001

在线出版日期：2022-04-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：142-147