基于图像饱和度分量Zernike矩的元件封装识别

摘要：

针对电子元件的自动检测识别问题,给出一种图像饱和度分量的Zernike矩识别电子元件的新方法.根据电子元件的图像颜色特征,分层提取原始图像的饱和度分量,通过遗传算法对饱和度图像分量进行二值化分割并计算改进的Zernike矩作为元件图像的识别特征,利用切比雪夫与曼哈顿距离加权线性来取代传统的欧氏距离判断相似性,降低相似性判定时的运算时间,从而达到识别元器件外观的目的.实验表明,该方法能够准确地识别待测的元器件封装,可应用于电子元件生产和检测中.

关键词：元器件识别、色彩提取、遗传算法、Zernike矩、相似性判定

所属期刊栏目：20

分类号：TN391.41(半导体技术)

资助基金：科技部科技支撑项目2013BAK06B08

在线出版日期：2020-06-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：5656-5660