能量色散X射线荧光光谱法分析金矿中的汞

摘要：

为了快速筛查针对金矿开采中Hg污染的情况,试验了能量色散X射线荧光光谱(energy dispersive X-ray fluorescence spectrometer,EDXRF)法直接测定Hg含量技术.对基于SDD探测器的便携式X-荧光(X-roy ftuorescence,XRF)分析仪,探测器分辨率为130eV@5.9keV,Rh靶X光管的管电压为40 kV、电流10μA的条件下对金矿样品进行测量.排除其他元素对Hg的谱线干扰,选取HgLα运用净峰面积法以金矿生产样品建立工作曲线,相关系数为0.985 1.实验表明,EDXRF法测定Hg,精密度高,平均偏差为9.0％,相对标准偏差(relative standard deviation,RSD)(n=10)小于1.3％,具有分析灵敏度高、样品制备过程简单、无损分析等优点,可用于金矿中Hg元素的快速检测.

关键词：EDXRF法、Hg测定、颗粒度、相关系数

所属期刊栏目：20

分类号：O657.43(分析化学)

资助基金：国家重点研发计划;国家自然科学基金

在线出版日期：2020-06-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：2964-2967