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10.3969/j.issn.1671-1815.2017.25.010

半电波暗室低频场均匀性研究

引用
现行的CISPR、ANSI等标准中,只提供了30 MHz以上的半电波暗室性能评估方法.然而,随着工作在30 MHz以下的电气设备与系统逐渐增多,现有标准已无法满足需求.为了准确的评估其电磁兼容性能,需要对30 MHz以下的半电波暗室性能进行评估.场均匀性是评价半电波暗室性能的主要指标,主要以其为研究对象,对铁氧体进行了理论分析与实验;并运用数值仿真的方法分析了半电波暗室在低频时的场均匀性.研究结果表明,运用外推法拟合得到铁氧体电磁参数是可行的,可应用于低频时暗室的仿真性能评估中,促进了低频段电磁兼容相关标准的研究.同时,该研究能对低频段暗室的设计建造提供一定的指导作用.

半电波暗室、30 MHz以下、铁氧体、场均匀性

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TM977.1

国家自然科学基金61601233;江苏省自然科学基金BK20150918;江苏省双创团队人才计划SRCB201526;江苏省南京信息工程大学“信息与通信工程”优势学科资助

2017-12-06(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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1671-1815

11-4688/T

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2017,17(25)

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