10.3969/j.issn.1671-1815.2017.01.039
日照作用下1000kV特高压GIS壳体的变形行为研究
以在役的1 000 kV ZF6-1100型特高压GIS母线壳体为研究对象,对其进行了温度与变形的现场测试,获得母线壳体在夏季典型日照作用下温度和壳体位移变化规律.数据分析结果表明:壳体的温度与变形受日照影响较大,壳体各位置温度随日照强度升高而升高,壳体顶部温度最高,增速最快,午后随日照强度减弱温度降低快,之后各点温度趋于与气温一致.在气温温差10℃的夏季,壳体最高温度波动达21℃.壳体受温度影响发生热胀冷缩变形,轴向变形量达0.973 mm.由于壳体各部分温度分布和变化不均匀,引起壳体非均匀变形,壳体法兰转角达0.01°.壳体温度和变形以24 h为周期变化,在设计、制造与检测中应特别关注这种周期性环境载荷可能引起的疲劳累积损伤及失效.
特高压GIS、壳体、日照温度、变形
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TM595(电器)
2017-04-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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