C3S浆体的ζ电位研究

摘要：

采用分析纯试剂合成的C3S和纳米SiO2水化制备浆体,应用X-射线衍射仪(XRD)、场发射电镜(FESEM)和红外光谱分析(FTIR)分别表征了C3S浆体的物相组成、微观形貌和分子结构.研究了浆体分散在不同浓度电解质溶液中的ζ电位.结果表明:C3S浆体在去离子水中ζ电位均为负值,未掺纳米SiO2浆体ζ电位约为-17 mV,掺15％纳米SiO2浆体ζ电位约为-19 mV.在Ca2+、Li+和Cl-溶液中,浆体表面吸附离子,改变了自身所带电荷,进而引起浆体ζ电位变化,K+由扩散层进入吸附层改变ζ电位.

关键词：C3S浆体、ζ电位、离子

所属期刊栏目：16

分类号：TQ170.1

在线出版日期：2017-03-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：223-227