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10.3969/j.issn.1671-1815.2016.14.035

LiNbO3晶体电光调制中半波电压测量方法研究

引用
在基于一次电光效应的光学电压传感器中,电光晶体的半波电压是影响传感器输入输出特性的关键参数之一。通过对电光调制原理的深入分析,选用LiNbO3晶体搭建半波电压测量平台,针对关键参数半波电压进行了测量。对试验所选用的LiNbO3晶体的半波电压进行了理论计算,并与实际结果进行对比;分析影响LiNbO3晶体半波电压的因素,并指出在实际工程应用中应考虑的问题。

铌酸锂晶体、电光调制、半波电压测量

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TM225(电工材料)

中央高校基本科研业务费106112014CDJZR155501,CDJZR14150001;国家创新研究群体基金51321063;重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室自主研究课题2007DA10512713206

2016-06-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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科学技术与工程

1671-1815

11-4688/T

16

2016,16(14)

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