10.3969/j.issn.1671-1815.2016.11.020
铅离子胁迫下盆栽玉米叶片光谱微分的红边响应研究
基于重金属铅(Pb)污染的盆栽实验玉米,采用光谱仪和叶绿素仪测量了不同浓度Pb2+胁迫下玉米老、中、新叶片的反射光谱及其叶绿素含量;也运用质谱仪测定了不同胁迫浓度叶片中Pb2+含量.对玉米老、中、新叶片中的叶绿素含量与各类叶片及土壤中的Pb2+浓度进行了相关性分析;并为了区分玉米叶片铅离子污染程度和预测Pb2+含量,提出了红边一阶微分曲线面积比值(FARR)和红边一阶微分峰前面积(FABR)参数;同时与常规红边一阶微分包围面积(FAR)、红边一阶微分曲线陡峭度(FCDR)、红边位置(REP)以及红边最大值(MR)作运用比较,实验结果表明,玉米叶片中的叶绿素含量从新叶、中叶到老叶逐渐增加,并随着土壤中Pb2+浓度的升高而降低;受到Pb2+胁迫时,新叶片到老叶片的REP“蓝移”更为明显;FARR和FABR在Pb2+的胁迫程度区分和污染监测方面比FAR、FCDR、REP、MR具有更好的预测效果.
盆栽玉米、重金属、光谱微分、红边参数、铅离子、污染监测
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X87(环境遥感)
国家自然科学基金项目41271436;中央高校基本科研业务费专项资金2009QD02
2016-06-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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110-114,127