极低温SMD器件S参数提取技术研究

摘要：

对SMD器件的参数提取技术发展和研究现状进行介绍.分析研究了嵌入的测试网络对被测件的参数提取的影响.设计了一套对极低温环境下的微波器件的参数提取系统,实现SMD器件在低温环境下的相关参数提取,为低温下的微波电路设计提供了有力的技术方案.

关键词：极低温、去嵌入式技术、S参数提取

所属期刊栏目：15

分类号：TN432(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金委员会与中国民航总局联合资助项目U1233202;中国民航飞行学院科研项目J2007-20

在线出版日期：2015-06-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：176-179,184