一种用于可编程逻辑的阵列的单粒子翻转试验系统设计研究

摘要：

单粒子翻转(SEU)试验是测试FPGA芯片抗单粒子翻转性能的重要方法.提出了一种用于测试FPGA芯片抗单粒子翻转性能的试验系统;该系统通过比对待测FPGA芯片输出数据序列和正确数据来判断是否发生数据翻转.如果发生数据翻转,则进一步统计翻转次数和翻转性质,从而能够较全面的测试FPGA芯片的抗单粒子翻转性能.运用该试验系统对某款FPGA芯片进行了单粒子翻转试验,测试结果显示该试验系统能够正确评估被测芯片的抗单粒子翻转性能.

关键词：单粒子翻转、可编程逻辑的阵列、试验系统

所属期刊栏目：14

分类号：TN47(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2014-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：212-214,248