近红外激光故障注入系统在密码芯片攻击中的应用

摘要：

首先概括了当前流行的密码芯片攻击方法及优缺点,然后介绍了近红外激光故障注入系统,并详细描述了近红外激光故障注入理论、系统组成、工作原理,及实验设备与参数.以DES(data eneryption standard)算法为例,通过数学推导,采用DFA(differential fault analysis)方法恢复密钥.最后,根据实验室搭建的近红外激光故障注入系统对芯片背面进行了故障攻击实验,在无任何防御措施下获取了DES算法密钥.通过实验,以及结合对有关防御方法的深入分析,展示了近红外激光故障注入攻击对密码芯片的具大威胁.

关键词：近红外激光、密码芯片、故障注入攻击、DFA、DES算法

所属期刊栏目：14

分类号：TP309(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家电网公司科技项目XX17201200048

在线出版日期：2014-09-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：225-230